エア・テスト・システムズ

1977 年に設立され、カリフォルニア州フリーモントに拠点を置く Aehr Test Systems は、ロジック、光学、メモリ デバイスを含む、集積回路用の高度なバーンインおよびテスト システムの世界的な提供を専門としています。その広範な製品ラインナップには、テストおよびバーンイン ソリューションの ABTS および FOX-P ファミリが含まれており、FOX ウェハパック アライナ、FOX-XP ウェハパック コンタクタ、FOX ダイパック キャリア、FOX ダイパック ローダなどの特殊なコンポーネントによって補完されています。ABTS システムは、パッケージ化された部品の製造評価と認定評価の両方のために特別に設計されており、さまざまな低消費電力および高消費電力のロジック デバイスやさまざまなメモリ タイプをカバーしています。メモリ、デジタル シグナル プロセッサ、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、システム オン チップ、集積光学デバイスなどのより複雑な集積回路の場合、FOX-XP および FOX-NP システムは、ウェハ レベルと個々のダイ/モジュール レベルの両方でバーンインおよび機能テストを容易にします。Aehr の FOX-CP システムは、ロジック、メモリ、フォトニック デバイスの信頼性を検証するためのコンパクトな枚葉式ソリューションを提供します。特徴的な製品である WaferPak コンタクタは、最大 300mm のウエハに対応する独自のフルウエハ プローブ カードを備えており、これにより半導体メーカーは、Aehr の FOX プラットフォーム上で包括的なウエハレベルのテストとバーンインを行うことができます。さらに、DiePak Carrier は再利用可能な一時的なパッケージング媒体を提供し、IC メーカーがベア ダイとモジュールの最終テストとバーンイン プロセスを完了できるようにします。